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探傷

設(shè)備 超聲波探傷設(shè)備型號
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超聲波探傷設(shè)備探頭選擇哪種好?

發(fā)布時間:2019/12/30 14:43:26

探頭是超聲波探傷設(shè)備重要組成部分,探頭根據(jù)被檢工件的材質(zhì)、形狀的不同,選擇亦是不同。

 

超聲波探傷設(shè)備探頭頻率的選擇

1、探頭頻率高,脈沖寬度小,分辨力高,有利于區(qū)分相鄰缺陷。
2、探頭頻率高,波長短,則半擴(kuò)散角小,聲束指向性好,能量集中,有利于發(fā)現(xiàn)缺陷并對缺陷定位。
3、探頭頻率高,波長短,近場區(qū)長度大,對探傷不利。
4、頻率增加,衰減急劇增加。

 

超聲波探頭頻率0.5~10MHz之間,選擇范圍大。頻率的高低對探傷有較大的影響,頻率高,靈敏度和分辨力高,指向性好,對探傷有利;但近場區(qū)長度大,衰減大,又對探傷不利。實際探傷中要全面分析考慮各方面的因素,合理選擇頻率。一般在保證探傷靈敏度的前提下盡可能選用較低的頻率。對于晶粒較細(xì)的鍛件、軋制件和焊接件等,一般選用較高的頻率,常用2.5~5MHz。

 

探頭.jpg

超聲波探傷設(shè)備探頭

 

超聲波探傷設(shè)備探頭晶片的選擇

1、晶片尺寸增加,半擴(kuò)散角減少,波束指向性變好,超聲波能量集中,對探傷有利。
2、晶片尺寸增加,近場區(qū)長度迅速增加,對探傷不利。
3、晶片尺寸大,輻射的超聲波能量大,探頭未擴(kuò)散區(qū)掃查范圍大,遠(yuǎn)距離掃查范圍相對變小,發(fā)現(xiàn)遠(yuǎn)距離缺陷能力增強。

 

探頭晶片大小對聲束指向性、近場區(qū)長度、近距離掃查范圍和遠(yuǎn)距離缺陷檢出能力有較大的影響。實際探傷中,探傷面積范圍大的工件時,為了提高探傷效率宜選用大晶片探頭;探傷厚度大的工件時,為了有效地發(fā)現(xiàn)遠(yuǎn)距離的缺陷宜選用大晶片探頭;探傷小型工件時,為了提高缺陷定位定量精度宜選用小晶片探頭;探傷表面不太平整,曲率較低較大的工件時,為了減少耦合損失宜選用小晶片探頭。

 

溫度探頭的選擇
溫度探頭有手持式和工業(yè)探頭兩種,適用于熱電偶、熱敏電阻以及RTD產(chǎn)品。

 

熱電偶探頭功能為齊全,適用于 -200 至 2000 攝氏度的溫度范圍。RTD 探頭為穩(wěn)定,可用于 -50 至 550 攝氏度的溫度范圍。熱敏電阻探頭為靈敏,非常適用于 -40 至 200 攝氏度的溫度范圍。